分析有關(guān)強光探照燈的技術(shù)設(shè)計
一，強光探照燈的散熱設(shè)計
為了滿足照明領(lǐng)域中強光探照燈的高光通量的要求，增加單個強光探照燈裝置的輸入功率，同時優(yōu)化裝置的結(jié)構(gòu)并提高發(fā)光效率是最有效，最直接的方法。 。但是，隨著功率的增加，強光探照燈會產(chǎn)生大量的熱量，從而導(dǎo)致芯片溫度升高。溫度的升高會影響眩光探照燈的量子效率降低，壽命降低，色偏等技術(shù)效率，因此在大功率照明中應(yīng)考慮散熱。
目前，眩光探照燈光源的散熱設(shè)計主要包括：
(1)傳統(tǒng)的散熱方法是通過添加風(fēng)扇來改變散熱器空氣的流速，但是增加了系統(tǒng)的體積以及諸如風(fēng)扇引起的噪聲之類的不利影響以及風(fēng)扇的長期穩(wěn)定性本身也會影響光源?？煽啃?/p>
(2)采用微熱管技術(shù)進行散熱，該技術(shù)利用其內(nèi)部液相變化來實現(xiàn)高傳熱效率，并且熱管使用低噪音和長壽命：熱電冷卻建立在珀爾帖之上電制冷的效果該方法無噪音，體積小，結(jié)構(gòu)緊湊，操作維護方便，但使用半導(dǎo)體制冷材料的成本過高。
二，強光探照燈的二次光學(xué)設(shè)計
眩光探照燈的光學(xué)設(shè)計分為一次光學(xué)設(shè)計和二次光學(xué)設(shè)計。在將芯片封裝到高光探照燈光源芯片的過程中，必須進行光學(xué)設(shè)計，該設(shè)計確定光源芯片的發(fā)光角度，光通量大學(xué)，發(fā)光強度，光強度分布，和色溫。這些稱為主要光學(xué)設(shè)計。當(dāng)眩光探照燈光源芯片應(yīng)用于特定產(chǎn)品時，通常將其設(shè)計成包括光源的光學(xué)系統(tǒng)。整個系統(tǒng)的設(shè)計，例如光提取效率，發(fā)光強度，光強度分布，色溫和顯色指數(shù)，被稱為光學(xué)設(shè)計。
次級光學(xué)設(shè)計基于一種光學(xué)設(shè)計，該光學(xué)設(shè)計考慮了單個眩光發(fā)光芯片的光質(zhì)量，而次級光學(xué)設(shè)計則考慮了整個光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計。
眩光探照燈光源的光源比其他光源小，避免了光源對光的吸收和遮擋，給二次光學(xué)設(shè)計帶來了極大的方便，特別是在空間陣列中，容易被視為點光源和面光源。但是，由于強光探照燈的光源的面積小，所以光只能向一個方向發(fā)光，因此存在一個方向的亮度高而另一個方向的光線不均勻或不均勻的情況。
三、強光探照燈的驅(qū)動和控制
強光探照燈光源工作時必須在電極之間加上一定的電壓，相當(dāng)于二極管處于正向?qū)顟B(tài)，加在PN結(jié)上的電壓和正向電流之間近似指數(shù)關(guān)系，這就導(dǎo)致強光探照燈結(jié)電壓微小的變化就會帶來導(dǎo)通電流的急劇變化，當(dāng)直接用電壓源驅(qū)動時，電源電壓的波動超過一定范圍就可能造成強光探照燈器件的永久損壞
另外，在相同導(dǎo)通電流下強光探照燈的結(jié)電壓隨著強光探照燈結(jié)溫升高而降低，即使保證驅(qū)動電壓或電流足夠精度仍然會由于結(jié)溫的變化而導(dǎo)致電流電壓的改變，所以強光探照燈的驅(qū)動控制也是一個非常重要的問題。
目前一般強光探照燈采用直流驅(qū)動，針對強光探照燈的直流驅(qū)動，主要分為限流電路、線性恒流電流和開關(guān)型直流驅(qū)動電路三種方式。
限流電路簡單、成本低，但是這種電路效率低、無法恒流，不適合大功率強光探照燈電路;線性恒流電路是一個閉環(huán)負反饋系統(tǒng)，結(jié)構(gòu)簡單、成本低、恒流效果好，缺點是效率低、窄輸入范圍和窄負載范圍，多用于輸入輸出電壓差較小的場合： 開關(guān)型直流驅(qū)動電路即通常意義上的開關(guān)電源，這種方式效率高，有大的輸入電壓范圍和寬的負載范圍，缺點是電路較復(fù)雜，成本較高，工作于開關(guān)模式，需考慮電磁兼容等。
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